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OminFluo990-DUV超宽禁带半导体荧光测试 参考价：1
OminFluo990-DUV深紫外超宽禁带半导体荧光测试系统，基于我司20年左右的第三代半导体表征测试经验，可以有效地对宽禁带与超宽禁带半导体材料例如AlN和...
DSR300-DUV深紫外分光光度检测系统 参考价：1
DSR300-DUV深紫外分光光度检测系统，通过193的脉冲激光器或者等离子体光源+单色仪的连续193光源，对器件的光电流响应进行测量，测量速度约4KHZ，同时...
SPM300 激光共聚焦多模态半导体参数测试仪 参考价：1
SPM300 激光共聚焦多模态半导体参数测试仪，
zolix|全晶圆半导体参数非接触测试解决方案 参考价：面议
zolix|全晶圆半导体参数非接触测试解决方案，基于我司自主研发的激光自动聚焦、自动化显微成像、宽场荧光成像、共焦光致发光和拉曼光谱等核心测试技术，联合白光干涉...
光学参数检测：宽场荧光显微成像模组 参考价：面议
光学参数检测：宽场荧光显微成像模组以自动化显微镜模组为基础，针对 SiC 等化合物半导体晶圆位错、层错等缺陷检测需求。
自动化显微成像模组-半导体缺陷检测 参考价：面议
自动化显微成像模组-半导体缺陷检测，针对半导体集成电路工艺线从表面缺陷检查到图形尺寸测量等各环节自动化视觉检测需求。
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